過程
測(cè)試代碼必須做以下幾件事情:
準(zhǔn)備測(cè)試所需的條件
調(diào)用要測(cè)試的方法
驗(yàn)證被測(cè)方法的行為和期望的行為是否一致
完成后清理各種資源
為了使用NUnit框架,需要做這些工作:
1.使用using聲明引用必要的NUnit類(并添加一個(gè)指向NUnitDll的引用)
2.定義一個(gè)測(cè)試類,必須是Public的、包換一個(gè)public的沒有參數(shù)的構(gòu)造函數(shù),并且在類定義上加上[TestFixture]attribute標(biāo)記
3.在測(cè)試類中包含用[Test]attribute標(biāo)記的方法。
特性
在使用NUnit框架時(shí),除了上面提到的[TestFixture]和[Test]特性外,還有一些有用的特性。靈活使用這些特性,將有助于提高測(cè)試代碼開發(fā)的效率。
1. Per-method的Setup和Teardown
[Setup]:用此Attribute指定的方法用于環(huán)境的建立,NUnit在調(diào)用每個(gè)[Test]方法之前,將調(diào)用此特性標(biāo)記的方法
[Teardown]:和[Setup]一樣,只是調(diào)用的時(shí)機(jī)是在每個(gè)[Test]方法完成后,用于環(huán)境的清理。
2. Per-class Setup和Per-class Teardown
[TestFixtureSetup]以及[TestFixtureTearDown]特性和上述的[Setup]以及[Teardown]類似,只是其作用于整個(gè)[TestFixture]類而已?梢允褂眠@兩個(gè)特性標(biāo)記的方法對(duì)整個(gè)test class設(shè)置和清理環(huán)境。
3. 使用Categories分類
[Category(“分類名”)]用于指定某個(gè)測(cè)試方法所屬的“類型”。用此特性將各個(gè)測(cè)試方法分類后,可以在NUnit環(huán)境中指定需要執(zhí)行的類型。
可以將此特性寫在[Test]特性一起,如:
[Test, Category(“test_0001”)]
也可以分開兩行:
[Test]
[Category(“test_0001”)]
Category還有一個(gè)Explicit屬性,可以顯式排除該Category的運(yùn)行(除非在NUnit GUI中指定),寫法如下:
[Category(“test_0001”, Explicit=true)]
4.測(cè)試預(yù)期的異常:ExpectedException
對(duì)測(cè)試而言有兩種異常:從測(cè)試代碼拋出的異常;由于某個(gè)模塊錯(cuò)誤而引發(fā)的異常.
第二種異常會(huì)在NUnit中捕獲并作測(cè)試失敗處理。而有時(shí)我們需要測(cè)試被測(cè)試方法是否拋出了期望的異常(例如,特意傳入的錯(cuò)誤參數(shù)),可以用以下方法。
[ExpectedException(typeof(SomeException))]或:[Test,ExpectedException(typeof(SomeException))]
注意,一旦期望的異常拋出了,剩余的代碼會(huì)被跳過。軟件測(cè)試
5.臨時(shí)忽略一些測(cè)試:Ignore
當(dāng)你寫了一些測(cè)試代碼,但并不打算馬上執(zhí)行時(shí),可以使用Ignore特性。
[Test,Ignore(“message”)]
這個(gè)測(cè)試將被跳過,并且在NUnit GUI中給出黃色的狀態(tài)欄。
技巧
有六個(gè)值得測(cè)試的具體部位,它們能夠提高你的測(cè)試水平。這六個(gè)方面可以統(tǒng)稱為Right_BICEP:
Right : 結(jié)果是否正確(Right)
對(duì)于測(cè)試而言,首要的也是明顯的任務(wù)是查看所期望的結(jié)果是否正確-驗(yàn)證結(jié)果。
這里的結(jié)果是指確認(rèn)代碼所做的和你的期望是一致的。
B : 邊界(boundary)條件是否正確
邊界條件包括許多內(nèi)容,將在下一節(jié)(2.3.邊界條件)中集中描述。軟件測(cè)試
I : 是否可以檢查反向(inverse)關(guān)聯(lián)
對(duì)一些方法,可以用反向的邏輯關(guān)系來驗(yàn)證它們。例如,為了檢查某條記錄是否成功的插入了數(shù)據(jù)庫,可以通過查詢這條記錄來驗(yàn)證,等等。
值得注意的是,當(dāng)同時(shí)編寫原方法和它的反向測(cè)試時(shí),一些BUG可能會(huì)被兩者中都有的錯(cuò)誤所掩飾。在可能的情況下,應(yīng)該用不同的原理來實(shí)現(xiàn)反向測(cè)試。
C : 是否可以使用其它方法來跨檢查(cross-check)結(jié)果
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E : 錯(cuò)誤條件(error condition)是否可以重現(xiàn)
應(yīng)該能夠通過強(qiáng)制引發(fā)真實(shí)世界中的錯(cuò)誤-網(wǎng)絡(luò)斷開、程序崩潰等-來測(cè)試代碼如何處理這些問題。簡單的無效參數(shù)之類的錯(cuò)誤會(huì)很簡單,但要模擬復(fù)雜的錯(cuò)誤需要一些特殊的技術(shù)。在下面的文字中,將討論使用Mock技術(shù)來解決如何強(qiáng)制產(chǎn)生錯(cuò)誤的問題。
P : 性能(performance)方面是否滿足條件
這里的性能特征并不是指程序的性能本身,而是指性能的那種“隨著規(guī)模增大,問題越來越復(fù)雜”的趨勢(shì)。我們應(yīng)該使用一個(gè)性能特性的快速回歸測(cè)試,避免出現(xiàn)某些修改使得程序變得很慢卻無法對(duì)其進(jìn)行定位的情況。