一、單元測(cè)試的概述

　　1.單元測(cè)試是開發(fā)編寫的一小段代碼，用于檢測(cè)被測(cè)代碼的一個(gè)很小的，很明確的功能是否正確。通常而言，一個(gè)單元測(cè)試是用于判斷某個(gè)特定條件(或者場(chǎng)景)下某個(gè)特定函數(shù)的行為。執(zhí)行單元測(cè)試是了為證明某段代碼的行為確實(shí)和開發(fā)者所期望的一致。

　　2.單元測(cè)試的目的是讓你對(duì)你寫的代碼更有信心，讓你的工作更有效率.

　　3.通過寫單元測(cè)試代碼，可以測(cè)試函數(shù)的結(jié)果是事達(dá)到預(yù)期的目標(biāo)，而且任何時(shí)候都可以運(yùn)行單元測(cè)試代碼，看修改或者增加了新的功能時(shí)候是否引進(jìn)了新的錯(cuò)誤.通過查看單元測(cè)試代碼可以找到如何使用你寫代碼的例子.

　　二、單元測(cè)試的Quick Start和Uint的使用入門

　　三、編寫和運(yùn)行Unit測(cè)試

　　1.Unit的各種斷言

　　AreEquals:判斷兩個(gè)元數(shù)據(jù)是否相等.

　　AreSame:判斷兩個(gè)引用數(shù)據(jù)是否相等.

　　IsTrue，IsFalse:判斷布爾表達(dá)式是否是真或假.

　　Isull，Isnotull:判斷引用類型是否是ull或ot ull.

　　Fail:斷言以失敗返回

　　2.斷言實(shí)行立即退出制:即按順序執(zhí)行測(cè)試代碼，只有有某一個(gè)斷言失敗，則立刻退出測(cè)試程序，顯示錯(cuò)誤.

　　3.NUint的編碼

　　引用NUint.Framework命名空間

　　對(duì)類應(yīng)用TestFixture Attribute，類必須是public ，并且有一個(gè)public void的無參的默認(rèn)構(gòu)造函數(shù)

　　對(duì)方法(函數(shù))應(yīng)用Test Attribute，

　　4.測(cè)試分組

　　通過對(duì)類或方法應(yīng)用Category Attribute，可以把類和方法分成不同的測(cè)試組，運(yùn)行測(cè)試了可以有選擇的運(yùn)行某組或某幾組測(cè)試.

　　5.類前置和后置方法，方法的前置和后置方法

　　類前置和后置方法是指在類中的其中方法執(zhí)行前和執(zhí)行后必須運(yùn)行的方法，分別是oneTimeSetup()和OneTimeTeardow(). 類似于構(gòu)造和析構(gòu)函數(shù).

　　方法的前置和后置方法，是指在每個(gè)測(cè)試方法運(yùn)行前后都必須運(yùn)行的方法，分別是MySetup()和MyTeardown().

　　6.異常斷言

　　在方法中應(yīng)用ExpectedException Attibute和進(jìn)行斷言，以期望某個(gè)方法拋出某個(gè)異常.